粒度分析儀
發(fā)布時(shí)間:2016-01-12
字號(hào):
T|
T

粒度分析儀是研究細(xì)粒物料(<37~40μ)粒度組成所用的儀器。采用全量程米氏散射理論,充分考慮了分散介質(zhì)和被測(cè)顆粒的折射率,結(jié)合專(zhuān)利的測(cè)量裝置,根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化來(lái)反演出顆粒群的粒度大小和粒度分布規(guī)律。